Бесконтактный 3D профилометр
Модель: Nanosystem NV-1800
Производитель: Nanosystem Co.,Ltd ,КНДР
Год выпуска: 2015

Стоимость работ: 950 руб/час
р.
Технические характеристики:
  • точность 0,1 нм в вертикальном направлении, 0,2 микрона в горизонтальном направлении
  • диапазон сканирования 270 мкм
  • удобный и простой интерфейс
  • быстрота измерений
  • бесконтактное измерение исключает повреждение поверхности образца
  • высокая воспроизводимость результатов измерений
  • вывод изображения в 2D и 3D формате
  • возможность «сшивания» нескольких изображений
Функции: Бесконтактные 3D измерения поверхности способом сканирующей интерферометрии белого света.

Быстрый бесконтактный 3D профилометр для любых типов поверхностей. Производитель NanoSystem проектирует системы для университетов, для исследований и разработок, университетов, а также для контроля технологических процессов. NanoSystem разрабатывает аппаратные и программные решения на основе запатентованных алгоритмах и интерферометров белого света. Запатентованные методы фазового сдвига и сканирующей интерферометрии белого света (WSI/PSI) позволяют измерять широкий спектр поверхностей материалов и их параметров, включая 2D и 3D профилирование поверхности с высоким пространственным разрешением (0,1 нм – вертикальное и 1,36 мкм – латеральное разрешение).

Перечень применяемых методик измерений: 2D и 3D профилирование поверхности с высоким пространственным разрешением
Техническая спецификация оптическго профилометра NanoSytem NV-1800

Метод измерения сканирующая интерферометрия белого света (WSI) интерферометрия фазового сдвига (PSI)
Диапазон сканирования XY: максимум 270мкм XY: скорость сканирования: 12мкм/сек
Разрешение Вертикальное: WSI: < 0,5нм / PSI: < 0,1нм
Латеральное: 0,2 ¸ 4мкм (зависит от объетива)
Воспроизводимость измерения высоты 0.1% @ 1σ (на тестовом образце высотой 8 мкм)
Система объективов 10x: Поле зрения – 0.652x0.498 мм Латеральное разрешение – 1,36 мм