Сканирующий АСМ-оптический конфокальный микроспектрометр спектров комбинационного рассеяния и флуоресцентного для работы в видимом и ультрафиолетовом диапазоне
Модель: Centaur U
Производитель: Solar Laser System, Белоруссия
Год выпуска: 2012
Назначение: Centaur U разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии). Микроспектрометр позволяет получать полные спектры комбинационного (рамановского) рассеяния и/или флуоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ)-изображения. Конструкция комплекса позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман-исследования и т.д.). Потенциальными потребителями услуг, осуществляемых с помощью микроспектрометра является: фармацевтические компании, лаборатории вузов, биологические и медицинские лаборатории, в состав деятельности которых входят исследования взаимодействий тканей, клеток и биомолекул; организации, выпускающие продукцию, требующую исследования физических характеристик поверхности и поверхностных слоев; организации, занимающиеся исследованиями в области предметов искусства, криминалистики, геологии, геммологии, минералогии и пр.

Типовые работы:
- комплексные исследования физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии) (ч; 3000 руб./ч)


Технические характеристики
Cetrtus для осуществления методик сканирования зондом (XYZ) и позиционирования зонда. Сканирующее основание Ratis для работы с методиками сканирования образцов и позиционирования образца (XYZ) относительно зонда или лазерного пятна. Для независимых конфокальных модуля для лазерной конфокальной микроскопии (в качестве детектора используется ФЭУ) и спектральной конфокальной микроскопии/спектроскопии (в качестве детектора используется ПЗС-матрица для научных исследований). Монохроматор для получения спектров. Источник лазерного излучения – твердотельный лазер с диодной накачной – DPSS – для рамановской спектроскопии (длина волны излучения лазера l = 632,8 нм, мощность излучения 37 мВт). Прямой оптический микроскоп исследовательского класса с набором объективов. Однокоординатная пьезоподвижка Vectus для автоматической/полуавтоматической фокусировки и оптического сканирования по оси Z. Механическая подвижка для объектива для грудой полуавтоматической фокусировки (управляет с компьютера). Контроллер управления основными частями Centaur U EG-3000. Рабочая станция и единой программное обеспечение NSpec.

Методики измерений
  • Классическая оптическая микроскопия;
  • Конфокальная лазерная микроскопия;
  • Конфокальная лазерная спектроскопия комбинационного рассеяния;
  • Сканирующая зондовая (атомно-силовая) микроскопия