Технические характеристики:
• Возможность исследования диэлектриков
• Режимы положительного и отрицательного МСВИ
• Диапазон масс >1000 m/Z
• возможность очистки поверхности путем ионного травления
• возможность провести анализ за 5 минут

Функции: Исследование вещества методом масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)

Методика: Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS) - метод исследования вещества, путём определения отношения массы к заряду (качества) и количества заряженных частиц, полученных в результате распыления поверхности образца первичным сфокусированным ионным пучком. Используется для анализа состава твёрдых поверхностей и тонких плёнок. Является самой чувствительной из техник анализа поверхностей, способной обнаружить присутствие элемента в диапазоне 1 часть на миллиард.

Работы: Анализ состава твёрдых поверхностей и тонких плёнок.

Ответственное лицо: Гойхман Александр Юрьевич. Email: AGoikhman@kantiana.ru

Инв. 340000107