Технические характеристики:
• Увеличение от 5 до 30000 раз
• Ускоряющее напряжение: 0,5-30 кВ
• Максимальный размер исследуемого образца – 150 мм
• Раствор конуса объективной линзы – 60 градусов
• Возможно исследование органических материалов

Технические характеристики энергодисперсионного анализатора :

• Разрешение 133 eV
• Определяемые элементы от Be до U

Режимы работы:
• регистрация вторичных (SEI) электронов
• регистрация обратно рассеянных электронов (BEI)

Функции: Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения. Применим для электронно-микроскопических и рентгеноспектральных исследований объектов различной природы: анализ морфологии, анализ поверхности микро- и наноструктур, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т. д. Низковакуумный режим в модели JSM-6390LV позволяет изучать влажные или непроводящие образцы без специальной пробоподготовки. Максимальный размер образца составляет 6 дюймов. Энергодисперсионный анализатор Oxford Instruments X-ACT позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ микро- и нанообъектов, картирование поверхности и сравнение спектров. Аналитическая станция позволяет осуществлять последовательный анализ и поэлементное сканирование множества участков в автоматическом режиме и обрабатывать данные применительно к соответствующим точкам наблюдения.

Методика: сканирующая электронная микроскопия, рентгеноспектральный анализ.

Работы: анализ поверхности микро- и наноструктур, качественный и количественный элементный анализ микрообъектов, картирование поверхности и приповерхностного слоя.

Отв. Лицо: Гойхман Александр Юрьевич, email: AGoikhman@kantiana.ru
Инв. Номер 400112